Február 26. és március 2. között az MC2023 vezető szakértőket és feltörekvő kutatókat hozott össze különböző területeken, például az anyagtudomány, az élettudományok, a műszerezés és a módszerek területén. Az esemény platformot biztosított az aktuális trendek megvitatására és az új felfedezések feltárására.
A TESCAN "Az elektronmikroszkópia és a fókuszált ionnyalábos jellemzési módszerek szerepe az elektrokémiai anyagok és azok közti fázisok értékelésében" című 60 perces átfogó előadással lépett színpadra. Ez az előadás kiemelte a TESCAN hozzájárulását az akkumulátorok anyagainak elemzésének javításához.
Ezenkívül két standon is bemutattuk az AMBER X plazma FIB-SEM készülékünket, amely az akkumulátor-technológia elemzésének kritikus eszköze. Az integrált ToF-SIMS megoldással felszerelt AMBER X bemutatta a TESCAN által a területen elért előrelépéseket.
Szívből köszönjük mindenkinek, aki ellátogatott hozzánk és kapcsolatba lépett velünk a rendezvény során, és felfedezte az akkumulátorok fejlesztésére vonatkozó megoldásainkat.
Az AMBER X plazma FIB-SEM és más TESCAN megoldások mélyebb megismeréséhez kérjük, látogasson el weboldalunkra. Maradjon velünk, ha további friss híreket szeretne kapni a TESCAN közelgő eseményeiről és fejlesztéseiről!