Fedezze fel, hogy a FIB-SEM Raman és TOF-SIMS módszerekkel integrálva hogyan nyújt mélyebb betekintést a Li-ion akkumulátorok elektródáinak romlásába.
Ez a webinárium a Li-ion akkumulátorok viselkedését vizsgálja a FIB-SEM, a Raman-spektroszkópia és a ToF-SIMS integrált megközelítésével.
Bemutatja, hogy ezek a kombinált technikák hogyan értékelik az akkumulátor-elektródák mikroszerkezetének inhomogén romlását, egyedülálló betekintést nyújtva a teljesítmény több szintű romlásával összefüggő, többszintű teljesítményromlásba.
Ismerje meg a házigazdát
Dr. Dean Miller a TESCAN GROUP az elektronmikroszkópia elismert szakértője, aki széles körű tapasztalattal rendelkezik az akkumulátorok anyagainak elemzése terén.