Mikro-CT megoldások
a gyors, sokoldalú
és kiváló minőségű akkumulátoros
képalkotásért

Nagy áteresztőképességű mikro-CT megoldások a hatékony adatgyűjtéshez és pontos rekonstrukcióhoz

Az akkumulátorfejlesztés során alapvető fontosságú az akkumulátorcellák értékelése, amint azok a kísérleti vonalról érkeznek. Az akkumulátorcellák részletes minőségbiztosításához szükséges gyors, roncsolásmentes képalkotás nagy áteresztőképességű, nagy felbontású és sokoldalú mikro-CT-szkennelést igényel. A különböző kísérleti akkumulátorkonstrukciók és az azokból származó termékek igényeinek kielégítése érdekében a mikro-CT-nek nagyméretű minták és nagyszámú minta vizsgálatára is alkalmasnak kell lennie.

A TESCAN UniTOM XL lehetővé teszi a teljes sejttételek gyors, másodperceken vagy perceken belüli 3D szkennelését a nagy mintamennyiségek nagy hatékonyságú szűrése érdekében.

Optimalizált felvételi pályák a kiváló képminőség érdekében különböző mintageometriák esetén

A TESCAN mikro-CT-rendszerei akár 11 szabadságfokot is kínálnak, ami lehetővé teszi a különböző pásztázási pályák sokféleségét a különböző alakú és típusú minták felvételének optimalizálása érdekében. A hengeres cellák felső és alsó széleinél jelenlévő kúpos sugárzás okozta műtermékek kiküszöbölésére speciális pásztázási rendszereket alkalmaznak.

A spirális vagy egymásra épített felvételi pályák integrálása lehetővé teszi az anód túlnyúlásainak és az akkumulátorcellák egyéb vízszintes jellemzőinek kiváló minőségű vizsgálatát. A TESCAN Extended Cone Beam CT™ biztosítja a lapos és sűrű minták műtárgymentes rekonstrukcióját. Az eltolt pásztázás vagy a detektor csempézése révén a vízszintes látómező megduplázható a nagy minták pásztázásához vagy az elemzett térfogat maximalizálásához kis voxelméret esetén.

Anód túlnyúlás vizsgálata hengeres akkumulátorban mikro-CT-vel

A legkisebb részletek feltárása a mikro-CT szubmikron felbontásával

Fejlett nanofókuszú röntgenforrással, precíz állványokkal és kiváló minőségű detektorokkal mikro-CT rendszerünk 600 nm-es térbeli felbontást ér el. Technológiáink integrációja lehetővé teszi az akkumulátorok anyagainak és belső struktúráinak részletes elemzését szubmikronos szinten.

Az összes hardver- és szoftverkomponens intelligens szinkronizálása lenyűgöző sebességgel előállított, végső felbontású adatkészleteket eredményez.

Alkalmazási megjegyzésünk letöltése a mikroporozitásmérésről
Grafit anód porozitás vizsgálata mikro-CT-vel

Volume of Interest Scanning (VOIs™) az intakt sejtek több skálán történő elemzéséhez

A TESCAN VOIs™ néhány kattintással leegyszerűsíti a több léptékű elemzést. A teljes cellák percek alatt kiváló minőségben szkennelhetők, lehetővé téve az olyan hibák lokalizálását, mint a nagy vagy kis sűrűségű zárványok, az elektróda delamináció vagy repedés, valamint más érdekes jellemzők.

A TESCAN mikro-CT szkennereinek abszolút koordinátarendszere és a beépített mikropozícionáló állvány lehetővé teszi e területek könnyű meghatározását a rekonstruált adatkészleteken az automatikus újrapozícionálás és a megnövelt nagyítás érdekében.

A TESCAN VOIs™ lehetővé teszi az összes fő alkatrész gyors, több skálán történő vizsgálatát kiváló felbontással és képminőséggel. Ez olyan egyszerű, mint az 1 - 2 - szkennelés.

Töltse le technikai megjegyzésünket az érdekeltségi volumen szkenneléséről
3D lítium-ion akkumulátor rekonstrukció mikro-CT adatokból
A TESCAN UNITOM XL spektrális mikro-CT oldalnézetben
Fedezze fel mikro-CT megoldásainkat az akkumulátor-kutatáshoz
FIB-vel készített grafit anód keresztmetszete
További információk a FIB-SEM segítségével történő többskálájú akkumulátor karakterizálásról
Raman-spektroszkópiai térkép SEM-képen
További információk az akkumulátor-kutatás különböző területeinek alkalmazásáról

Kérdések?
Szeretne egy virtuális bemutatót?

Globális csapatunk készséggel áll rendelkezésre, hogy válaszoljon a TESCAN-nal, az akkumulátorokkal és egyéb témákkal kapcsolatos kérdésekre.