A TESCAN örömmel jelenti be részvételét a Microscopy & Microanalysis (M&M) 2024 konferencián, amelyet július 29. és augusztus 1. között rendeznek meg az Ohio állambeli Clevelandben, az Egyesült Államokban.
Ez a nagyra becsült esemény a mikroszkópia és a mikroelemzés szakértőinek kulcsfontosságú találkozója, és mi alig várjuk, hogy bemutathassuk legújabb fejlesztéseinket és hozzájárulásainkat a tudományos közösség számára. Idén különösen nagy örömmel mutatjuk be a TESCAN AMBER 2-t, az AMBER sorozatunk várva várt frissítését.
Tapasztalja meg a mikroszkópia jövőjét
Látogasson el hozzánk az 521-es standon, és nézze meg demórendszereinket, köztük a TESCAN AMBER 2, TESCAN CLARA, TESCAN TENSOR és TESCAN micro-CT készülékeket.
Szakértői csapatunk élő bemutatókat tart, válaszol a kérdéseire, és megvitatja, hogy innovatív megoldásaink hogyan javíthatják az Ön kutatási és fejlesztési munkafolyamatait.
A TESCAN AMBER 2 hivatalos bemutatója
Örömmel jelentjük be a TESCAN AMBER 2 hivatalos bemutatóját az M&M 2024-en. A bemutató eseményre július 29-én kerül sor a standunkon (521. szám).
Itt az alkalom, hogy találkozzon ennek a fejlett FIB-SEM rendszernek a fejlesztőivel, és megismerje annak képességeit. Az AMBER 2 kivételes sebességet, pontosságot és sokoldalúságot kínál az átfogó mintaelőkészítéshez és jellemzéshez.
Fedezze fel legújabb eszközeinket: TESCAN AURA Gentle Ion Beam ™ és TEM AutoPrep Pro™.
Az AMBER 2 mellett két új eszközt is bevezetünk, amelyek célja a TEM-minták előkészítésének javítása:
-
TESCAN AURA Gentle Ion Beam™: Ez a rendszer minimalizálja a gallium FIB által indukált károsodást a TEM-mintaelőkészítés során, minimális amorfizációs károsodást biztosítva és megőrizve a minták kristályos szerkezetét.
-
TESCAN TEM AutoPrep Pro™: Ez a szoftver automatizálja és optimalizálja a teljes TEM mintaelőkészítési folyamatot, növelve a termelékenységet az olyan feladatok elvégzésével, mint a marás, kiemelés, trimmelés és polírozás az éjszakai, felügyelet nélküli futtatások során.
Vegyen részt tudományos előadásainkon
Csapatunk a konferencia során több tudományos közleményt is bemutat. Mindenképpen vegyen részt ezeken az üléseken, hogy új ismereteket szerezzen és megismerje a mikroszkópia és a mikroanalízis legújabb fejlesztéseit:
-
Ásványok spektrális mikro-CT képalkotása atomi információk és sűrűségtérképek kinyerésével
Időpont és időpont: 2024. július 29., hétfő, 15:00-17:00 óra
Helyszín: Kiállítóterem 7. posztertábla
Előadó: dr: Wesley De Boever, Ph.D.
-
Egy új, teljesen integrált, visszahúzható 4D STEM detektor pásztázó elektronmikroszkópokhoz Timepix3 alapú pixeles detektorral
Időpont és időpont: 2024. július 29., hétfő, 15:00-17:00 óra
Helyszín: Kiállítóterem Poszter tábla ?
Előadó: dr: Rastislav Motuz
-
Akkumulátor-elektrolit viselkedése a kialakulás és a melegítés során: új ismeretek a nagy felbontású és dinamikus mikro-CT segítségével
Időpont és időpont: 2024. július 30., kedd, 11:45 - 12:00 óra
Helyszín: Helyszín: Huntington Convention Center 19-es terem
Előadó: dr: Ksenija Nikolic, Ph.D.
Ütemezzen találkozót ügyfélszolgálati csapatunkkal
Ügyfélszolgálati csapatunk a konferencia teljes időtartama alatt rendelkezésre áll, hogy megvitassa az Ön egyedi igényeit, és hogy a TESCAN megoldásai hogyan támogathatják kutatási és fejlesztési erőfeszítéseit.
Szervezzen találkozót csapatunkkal, hogy a legtöbbet hozhassa ki az M&M 2024-es látogatásából.
Látogasson el hozzánk az 521-es standon
Meghívjuk Önt, hogy látogasson el standunkra, foglaljon demó időpontot, és ismerje meg a TESCAN AMBER 2-t és új eszközeinket. Ne hagyja ki ezt a lehetőséget, hogy beszélgessen szakértőinkkel, és első kézből láthassa, hogyan fejleszti a TESCAN a mikroszkópia és a mikroelemzés területét.
A TESCAN AMBER 2 és az új eszközeinkkel kapcsolatos további információkért látogasson el weboldalunkra: https://info.tescan.com/matsci-fib-sem/tescan-amber-2.